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ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体

频率:3.0MHz - 100.0MHz

尺寸:12.7*4.8*4.2mm,12.7*4.8*3.2mm,12.7*4.8*3.0mm,12.7*4.8*2.7mm

普通石英晶振,外观完全使用金属材料封装的,产品本身采用全自动石英晶体检测仪,以及跌落,漏气等苛刻实验.产品本身具有高稳定性,高可靠性的石英晶体谐振器,焊接方面支持表面贴装,外观采用金属封装,具有充分的密封性能,晶振本身能确保其高可靠性,采用带包装,可对应产品应用到自动贴片机告诉安,满足无铅焊接的高温回流温度曲线要求.


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ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体,高精度的石英晶体谐振器,是需要在生产前期的各道工序就得采用严格的标准,比如电阻的测量技术:引进一批先进的检测仪器,准确度达到±1ppm(国标标准)。在测量应用上制定一套标准的测量方法保证测量的准确性、仪器的精度、测试的一致性。

如下方面都会对测量结果带来影响:

1、测试针本身连接的可靠性;

2、测试针同测试管的连接性;

3、测试板同测试针的接触问题;

4、测试座同电缆的连接;

5、小负载的规格测量的规定;

6、测试板π头上空测其C0值(保留3位以上小数);

7、测量环境、操作方法等管制。

普通石英晶振,外观完全使用金属材料封装的,产品本身采用全自动石英晶体检测仪,以及跌落,漏气等苛刻实验.产品本身具有高稳定性,高可靠性的石英晶体谐振器,焊接方面支持表面贴装,外观采用金属封装,具有充分的密封性能,晶振本身能确保其高可靠性,采用编带包装,可对应产品应用到自动贴片机告诉安装,满足无铅焊接的高温回流温度曲线要求.ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体

ACT晶振规格

单位

HC49US‐SMX晶振频率范围

石英晶振基本条件

标准频率

f_nom

3.0MHz - 100.0MHz

标准频率

储存温度

T_stg

‐55°C - +125°C

裸存

工作温度

T_use

‐10°C - +60°C, ‐20°C - +70°C, ‐40°C -+85°C

标准温度

激励功率

DL

500µW

推荐:1µW

频率公差

f_— l

±5.0ppm - ±100.0ppm

+25°C 对于超出标准的规格说明,请联系我们以便获取相关的信息,http://www.jyyshkj.com/

频率温度特征

f_tem

-0.034±0.008ppm

超出标准的规格请联系我们.

负载电容

CL

5.0pF - 32.0pF,

不同负载要求,请联系我们.

串联电阻(ESR)

R1

如下表所示

-40°C —  +85°C, DL = 100μW

频率老化

f_age

±3× 10-6 / year Max.

+25°C,第一年

HC49US-SMX 12.7_4.8mm 49SMD

前端放大器噪声,ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体

数字示波器的输入在被模数转换器(ADC)数字化之前通过模拟放大器。该放大器产生的噪声与示波器的输入带宽成正比:带宽越宽,噪声越高。但是,过多地降低带宽会影响采样信号的上升和下降时间,从而给抖动测量带来很大的误差。

描述上升时间/下降时间与信号边缘带宽之间关系的一般方程为:

在信号边缘的20%和80%点之间测量上升时间(或下降时间)。ACT MMD建议将示波器带宽设置为信号带宽的3倍。在某些示波器中,只有在选择最大采样率时才能设置带宽。在其他示波器中,带宽可能根本无法选择。

由垂直增益设置引起的量化噪声

量化误差是采样点与采样点信号实际值之间的差异。该错误如图9所示。范围内的这部分错误是由显示器的垂直增益设置引起的。如果垂直增益设置为较小值,则示波器可能无法利用其内部ADC的全分辨率。

ACTMMD建议调整示波器的垂直增益控制,直到信号充满显示器的整个高度。在某些示波器中,将垂直增益调高一个额外的档位,以便在显示屏的顶部和底部剪切一小部分信号,可以进一步减少量化误差。由于较高的垂直增益设置可能会导致示波器在ADC中利用额外的位对数字信号进行数字化,因此可以实现此优势。但是,该功能取决于范围,因此请参阅您的范围手册。

由于采样率低,导致量化噪声

前一节中描述的一些量化噪声是由沿着水平轴的采样点不足引起的。ACT MMD建议至少有3个采样点落在上升沿或下降沿的20%到80%之间。该建议转化为该范围的最低采样率要求。例如,如果信号的上升时间(20% - 80%)为1 ns,并且在此时间范围内需要4个采样点,则示波器的采样速率必须高于4 Gsps。如果您的示波器具有比上述最低要求更高的采样率,请选择最高采样设置。ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体

时基抖动

数字示波器中的采样点由内部时基产生。作为时钟源,时基具有自己的抖动特性,并且会导致信号的抖动测量误差。一般而言,时基抖动应保持在预期信号抖动的25%以下,以支持抖动测量,精度优于3%。ACT MMD建议使用实验室中可用的最佳示波器来执行抖动测量,因为高端设备倾向于具有更好的时基电路和更低的抖动。

使用实时数字示波器的抖动测量程序

测量周期抖动方法A

1.配置示波器测量所有采样时钟周期,而不是仅测量第一个时钟。

2.配置示波器在屏幕上捕获10,000个时钟周期。例如,对于100MHz时钟,10K周期=100μS。由于显示屏通常包含10个水平分区,所以水平控制应设置为每分区10 us。

3.记录范围报告的平均值,标准偏差和峰 - 峰值。

4.平均值和标准偏差值相当准确。但峰峰值由于其无限性而不太准确(见第2.1.3节)。按照下一步获得更精确的峰峰值。

5.重复步骤2和3二十五(25)次。记录每次运行后的峰 - 峰值,并根据25个结果计算平均峰 - 峰值。

方法B(JEDEC方法)

1.配置示波器测量第一个时钟的周期并打开直方图功能(如果可用)。

2.配置示波器以在屏幕上捕获单个时钟周期。

3.重复上述步骤10,000次。

4.记录scope报告的平均值,标准偏差和峰峰值。

5.平均值和标准偏差值相当准确。但峰峰值由于其无限性而不太准确(见第2.1.3节)。按照下面的步骤获得更精确的峰峰值。

6.重复第2步到第4步二十五(25)次。记录每次运行后的峰 - 峰值,并从25个结果中计算平均峰 - 峰值。ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体

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