ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体
频率:3.0MHz - 100.0MHz
尺寸:12.7*4.8*4.2mm,12.7*4.8*3.2mm,12.7*4.8*3.0mm,12.7*4.8*2.7mm
普通石英晶振,外观完全使用金属材料封装的,产品本身采用全自动石英晶体检测仪,以及跌落,漏气等苛刻实验.产品本身具有高稳定性,高可靠性的石英晶体谐振器,焊接方面支持表面贴装,外观采用金属封装,具有充分的密封性能,晶振本身能确保其高可靠性,采用编带包装,可对应产品应用到自动贴片机告诉安装,满足无铅焊接的高温回流温度曲线要求.
ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体,高精度的石英晶体谐振器,是需要在生产前期的各道工序就得采用严格的标准,比如电阻的测量技术:引进一批先进的检测仪器,准确度达到±1ppm(国标标准)。在测量应用上制定一套标准的测量方法保证测量的准确性、仪器的精度、测试的一致性。
如下方面都会对测量结果带来影响:
1、测试针本身连接的可靠性;
2、测试针同测试管的连接性;
3、测试板同测试针的接触问题;
4、测试座同电缆的连接;
5、小负载的规格测量的规定;
6、测试板π头上空测其C0值(保留3位以上小数);
7、测量环境、操作方法等管制。
普通石英晶振,外观完全使用金属材料封装的,产品本身采用全自动石英晶体检测仪,以及跌落,漏气等苛刻实验.产品本身具有高稳定性,高可靠性的石英晶体谐振器,焊接方面支持表面贴装,外观采用金属封装,具有充分的密封性能,晶振本身能确保其高可靠性,采用编带包装,可对应产品应用到自动贴片机告诉安装,满足无铅焊接的高温回流温度曲线要求.ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体
ACT晶振规格 |
单位 |
HC49US‐SMX晶振频率范围 |
石英晶振基本条件 |
标准频率 |
f_nom |
3.0MHz - 100.0MHz |
标准频率 |
储存温度 |
T_stg |
‐55°C - +125°C |
裸存 |
工作温度 |
T_use |
‐10°C - +60°C, ‐20°C - +70°C, ‐40°C -+85°C |
标准温度 |
激励功率 |
DL |
500µW |
推荐:1µW |
频率公差 |
f_— l |
±5.0ppm - ±100.0ppm |
+25°C 对于超出标准的规格说明,请联系我们以便获取相关的信息,http://www.jyyshkj.com/ |
频率温度特征 |
f_tem |
-0.034±0.008ppm |
超出标准的规格请联系我们. |
负载电容 |
CL |
5.0pF - 32.0pF, |
不同负载要求,请联系我们. |
串联电阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C — +85°C, DL = 100μW |
频率老化 |
f_age |
±3× 10-6 / year Max. |
+25°C,第一年 |
前端放大器噪声,ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体
数字示波器的输入在被模数转换器(ADC)数字化之前通过模拟放大器。该放大器产生的噪声与示波器的输入带宽成正比:带宽越宽,噪声越高。但是,过多地降低带宽会影响采样信号的上升和下降时间,从而给抖动测量带来很大的误差。
描述上升时间/下降时间与信号边缘带宽之间关系的一般方程为:
在信号边缘的20%和80%点之间测量上升时间(或下降时间)。ACT MMD建议将示波器带宽设置为信号带宽的3倍。在某些示波器中,只有在选择最大采样率时才能设置带宽。在其他示波器中,带宽可能根本无法选择。
由垂直增益设置引起的量化噪声
量化误差是采样点与采样点信号实际值之间的差异。该错误如图9所示。范围内的这部分错误是由显示器的垂直增益设置引起的。如果垂直增益设置为较小值,则示波器可能无法利用其内部ADC的全分辨率。
ACTMMD建议调整示波器的垂直增益控制,直到信号充满显示器的整个高度。在某些示波器中,将垂直增益调高一个额外的档位,以便在显示屏的顶部和底部剪切一小部分信号,可以进一步减少量化误差。由于较高的垂直增益设置可能会导致示波器在ADC中利用额外的位对数字信号进行数字化,因此可以实现此优势。但是,该功能取决于范围,因此请参阅您的范围手册。
由于采样率低,导致量化噪声
前一节中描述的一些量化噪声是由沿着水平轴的采样点不足引起的。ACT MMD建议至少有3个采样点落在上升沿或下降沿的20%到80%之间。该建议转化为该范围的最低采样率要求。例如,如果信号的上升时间(20% - 80%)为1 ns,并且在此时间范围内需要4个采样点,则示波器的采样速率必须高于4 Gsps。如果您的示波器具有比上述最低要求更高的采样率,请选择最高采样设置。ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体
时基抖动
数字示波器中的采样点由内部时基产生。作为时钟源,时基具有自己的抖动特性,并且会导致信号的抖动测量误差。一般而言,时基抖动应保持在预期信号抖动的25%以下,以支持抖动测量,精度优于3%。ACT MMD建议使用实验室中可用的最佳示波器来执行抖动测量,因为高端设备倾向于具有更好的时基电路和更低的抖动。
使用实时数字示波器的抖动测量程序
测量周期抖动方法A
1.配置示波器测量所有采样时钟周期,而不是仅测量第一个时钟。
2.配置示波器在屏幕上捕获10,000个时钟周期。例如,对于100MHz时钟,10K周期=100μS。由于显示屏通常包含10个水平分区,所以水平控制应设置为每分区10 us。
3.记录范围报告的平均值,标准偏差和峰 - 峰值。
4.平均值和标准偏差值相当准确。但峰峰值由于其无限性而不太准确(见第2.1.3节)。按照下一步获得更精确的峰峰值。
5.重复步骤2和3二十五(25)次。记录每次运行后的峰 - 峰值,并根据25个结果计算平均峰 - 峰值。
方法B(JEDEC方法)
1.配置示波器测量第一个时钟的周期并打开直方图功能(如果可用)。
2.配置示波器以在屏幕上捕获单个时钟周期。
3.重复上述步骤10,000次。
4.记录scope报告的平均值,标准偏差和峰峰值。
5.平均值和标准偏差值相当准确。但峰峰值由于其无限性而不太准确(见第2.1.3节)。按照下面的步骤获得更精确的峰峰值。
6.重复第2步到第4步二十五(25)次。记录每次运行后的峰 - 峰值,并从25个结果中计算平均峰 - 峰值。ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体
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