晶振的稳定性和精度通常用于描述振荡器的不稳定性质量,准确度是指给定测量值或一个样本的一组测量值的平均值与被测量量的定义一致的程度,稳定性描述了作为诸如时间,温度,冲击等参数的函数的变化量.精度是指一组样品的给定测量值与该组的平均值一致的程度.

如果在测试期间未识别出干扰影响,则对频率稳定性的各种影响可以以导致错误测试结果的方式相互作用.例如,建筑物振动会干扰短期稳定性的测量.建筑物中通常存在10-3g至10-2g的振动水平.因此,如果OSC晶振的加速度灵敏度为1x10-9/g,那么单独的建筑物振动可能会导致10-12到10-11级的短期不稳定性.

图1由C L变化引起的补偿频率与温度的变化

2-g翻转测试通常用于测量晶体振荡器的加速度灵敏度.热效应可能会干扰此测试,因为当石英晶体振荡器上下颠倒时,烤箱内的热梯度会因对流电流的变化而变化[29].干扰影响的其他例子包括干扰老化测试的温度和驱动电平变化;由磁场引起的感应电压干扰振动敏感性试验;并且热瞬态效应,湿度变化以及负载电抗温度系数的影响干扰了晶体单元的静态f对T特性的测量.

图2温度补偿晶体振荡器(TCXO)调整效果

TCXO有源晶振的一个重要影响是校准期间频率调整与f与T稳定性之间的相互作用[42].这种现象称为修剪效果.在TCXO中,来自热敏电阻的温度相关信号用于产生校正电压,该校正电压施加到石英晶体谐振器网络中的变容二极管.产生的电抗变化补偿了晶体的f与T的变化.在校准期间,晶体的负载电抗会发生变化,以补偿TCXO的老化.由于频率与电抗的关系是非线性的,校准期间的电容变化会使频率与电抗曲线上的工作点移动到曲线斜率不同的点,从而改变补偿(即,补偿老化会降低fvs.T稳定性).图1显示了对于相同的补偿CL的方式VS.T,当工作点移动到不同的CL时,补偿f对T的变化.图2显示了具有+6ppm频率调节范围的0.5ppm温补OSC晶振的测试结果(允许对器件的寿命进行老化补偿).交付时,该TCXO符合其0.5ppmfvs.T规格;然而,当测试期间频率调整为+6ppm时,f与T的性能显着下降.