高精度NEL恒温晶振决方案，现代仪器设备，商用&国防通信系统和雷达设备需要卓越的稳定性，极低的相位噪声频率来源。相位噪声为-120的测试设备dBc/Hz，与载波偏移1 Hz且优于-180使用现有测试，噪声基底上的dBc/Hz是一个挑战设备和方法。它与生产环境，其中测量时间和每次测量的准确性变得至关重要。目的这项工作的目的是研究不同的测试方法，评估不同相位噪声测量设备，以及为两种低频（约10MHz）超低相位噪声（ULPN）参考，以及HF/UHF ULPN OCXO恒温晶振。几种测试方法和测试对仪器进行了调查。没有“一刀切”解决方案，但对于每个频率范围，最佳解决方案提出。
每个特征的值也取决于该测试用于生产环境，或“双振子法”[1]被排除在外，因为它不能很好地满足前四个标准，因此仅采用互相关的方法和设备考虑了技术。[1] ，[4]。lower面临的挑战频率设备（约10.000MHz）.

对于更高频率的ULPN OCXO，特别是100.000 MHz载波频率，射频污染环境和EMI增加了进一步的挑战。对于采用锁相环（PLL）的设备获得更高频率的技术设备PLL和测试仪器的PLL使其更加难以获得准确的结果。

内尔公司是一家在超低相位噪声/相位抖动进口晶体振荡器解决方案的设计及制造方面提供尖端技术的企业。 以下将介绍内尔公司的低相位噪声技术的概要。