ACT晶振,贴片晶振,3225H SMX‐4晶振,射频应用晶振,我们不仅仅是频率控制
以工程为主导的技术支持
定制设计/非标准频率
晶体和微控制器匹配服务
样品库存
位于英国的内部技术实验室
广泛而成熟的全球分销网络
全面的售后支持
库存管理
通过ISO9001和TS16949认证
灵活性 - 快速周转时间,低MOQ
定制振荡器
我们与Esterline Research and Design(Esterline)合作,提供具有独特性能的定制振荡器,适用于最苛刻的应用。
通过使用Esterline的专有技术,我们为市场上最高性能的TCXO有源晶振和OCXO提供全面的设计支持。
通过Esterline,我们突破了高精度振荡器技术的界限。这些突破性产品为TCXO和OCXO树立了新标准,为市场带来了新的性能水平。ACT晶振,贴片晶振,3225H SMX‐4晶振,射频应用晶振
ACT晶振规格 |
单位 |
3225H SMX‐4晶振频率范围 |
石英晶振基本条件 |
标准频率 |
f_nom |
10.0MHz - 64.0MHz |
标准频率 |
储存温度 |
T_stg |
‐55°C - +125°C |
裸存 |
工作温度 |
T_use |
‐40°C -+85°C |
标准温度 |
激励功率 |
DL |
200µW |
推荐:1µW |
频率公差 |
f_— l |
±10.0ppm |
+25°C对于超出标准的规格说明,请联系我们以便获取相关的信息,http://www.jyyshkj.com/ |
频率温度特征 |
f_tem |
-0.034±0.008ppm |
超出标准的规格请联系我们. |
负载电容 |
CL |
8.0pF - 16.0pF |
不同负载要求,请联系我们. |
串联电阻(ESR) |
R1 |
如下表所示 |
-40°C — +85°C,DL = 100μW |
频率老化 |
f_age |
±1× 10-6/ year Max. |
+25°C,第一年 |
周期到周期抖动,ACT晶振,贴片晶振,3225H SMX‐4晶振,射频应用晶振
周期到周期(C2C)抖动在JEDEC标准65B中被定义为相邻周期之间的信号的周期时间的变化,在相邻周期对的随机采样中。JEDEC标准进一步规定每个样本大小应该大于或等于1,000。请注意,周期到周期抖动仅涉及2个连续周期之间的周期差异,没有提及理想周期。
周期到周期抖动通常被报告为pS中的峰值,其定义了任何两个连续时钟的上升沿之间的最大偏差。这种抖动规范通常用于说明扩频时钟的稳定性,因为周期抖动对频率扩展功能更敏感,而C2C抖动则不是。周期到周期抖动有时也以pS的RMS值表示。
周期到周期抖动测量方法
ACTMMD建议使用以下步骤测量周期以抖动抖动:
1.测量两个相邻时钟周期T1和T2的周期时间
2.计算T1-T2的值。记录此号码的绝对值。
3.等待随机数的时钟周期
4.重复上述步骤1,000次
5.计算1000个样本的标准偏差(σ)和峰值。峰值是数据集中最大的绝对值(T1-T2)数。
6.重复上述测量25次,并计算25组结果的平均峰值。
与峰到峰周期抖动类似,周期抖动的峰值也发散,而不是随着采样数量的增加而收敛。添加步骤中的步骤6以获得来自25个样本组的平均峰值C2C抖动。
图4是循环抖动直方图的一个例子。在这种情况下,周期抖动的峰值周期为25.66 pS(两个数字中较大的一个:21.22 pS和-25.66 pS以绝对形式表示)。ACT晶振,贴片晶振,3225H SMX‐4晶振,射频应用晶振
长期抖动
长期抖动测量时钟输出从理想位置的变化,连续几个周期。测量中使用的实际循环次数取决于应用。长期抖动不同于周期抖动和周期间抖动,因为它表示抖动对长时间间隔内连续时钟周期流的累积影响。这就是为什么长期抖动有时被称为累积抖动的原因。长期抖动通常用于图形/视频显示器和远程遥测应用,如测距仪。
ACTMMD建议使用以下方法测量长期抖动; 在这个例子中,我们测量了10,000个时钟的长期抖动。
1.测量连续10,000个时钟周期的时间间隔,如图5所示
2.等待随机数的时钟周期
3.重复上述步骤1,000次
4.计算1000个样本的平均值,标准偏差(σ)和峰峰值
重复上述测量25次。从25组结果中,计算平均峰值到峰值。ACT晶振,贴片晶振,3225H SMX‐4晶振,射频应用晶振