ACT晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体

ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体,高精度的石英晶体谐振器，是需要在生产前期的各道工序就得采用严格的标准，比如电阻的测量技术：引进一批先进的检测仪器，准确度达到±1ppm（国标标准）。在测量应用上制定一套标准的测量方法保证测量的准确性、仪器的精度、测试的一致性。

如下方面都会对测量结果带来影响：

1、测试针本身连接的可靠性；

2、测试针同测试管的连接性；

3、测试板同测试针的接触问题；

4、测试座同电缆的连接；

5、小负载的规格测量的规定；

6、测试板π头上空测其C0值(保留3位以上小数)；

7、测量环境、操作方法等管制。

普通石英晶振,外观完全使用金属材料封装的,产品本身采用全自动石英晶体检测仪,以及跌落,漏气等苛刻实验.产品本身具有高稳定性,高可靠性的石英晶体谐振器,焊接方面支持表面贴装,外观采用金属封装,具有充分的密封性能,晶振本身能确保其高可靠性,采用编带包装,可对应产品应用到自动贴片机告诉安装,满足无铅焊接的高温回流温度曲线要求.ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体

ACT晶振规格	单位	HC49US‐SMX晶振频率范围	石英晶振基本条件
标准频率	f_nom	3.0MHz - 100.0MHz	标准频率
储存温度	T_stg	‐55°C - +125°C	裸存
工作温度	T_use	‐10°C - +60°C, ‐20°C - +70°C, ‐40°C -+85°C	标准温度
激励功率	DL	500µW	推荐:1µW
频率公差	f_— l	±5.0ppm - ±100.0ppm	+25°C对于超出标准的规格说明,请联系我们以便获取相关的信息,http://www.jyyshkj.com/
频率温度特征	f_tem	-0.034±0.008ppm	超出标准的规格请联系我们.
负载电容	CL	5.0pF - 32.0pF,	不同负载要求,请联系我们.
串联电阻(ESR)	R1	如下表所示	-40°C — +85°C,DL = 100μW
频率老化	f_age	±3× 10-6/ year Max.	+25°C,第一年

HC49US-SMX 12.7_4.8mm 49SMD

前端放大器噪声，ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体

数字示波器的输入在被模数转换器（ADC）数字化之前通过模拟放大器。该放大器产生的噪声与示波器的输入带宽成正比：带宽越宽，噪声越高。但是，过多地降低带宽会影响采样信号的上升和下降时间，从而给抖动测量带来很大的误差。

描述上升时间/下降时间与信号边缘带宽之间关系的一般方程为：

在信号边缘的20％和80％点之间测量上升时间（或下降时间）。ACT MMD建议将示波器带宽设置为信号带宽的3倍。在某些示波器中，只有在选择最大采样率时才能设置带宽。在其他示波器中，带宽可能根本无法选择。

由垂直增益设置引起的量化噪声

量化误差是采样点与采样点信号实际值之间的差异。该错误如图9所示。范围内的这部分错误是由显示器的垂直增益设置引起的。如果垂直增益设置为较小值，则示波器可能无法利用其内部ADC的全分辨率。

ACTMMD建议调整示波器的垂直增益控制，直到信号充满显示器的整个高度。在某些示波器中，将垂直增益调高一个额外的档位，以便在显示屏的顶部和底部剪切一小部分信号，可以进一步减少量化误差。由于较高的垂直增益设置可能会导致示波器在ADC中利用额外的位对数字信号进行数字化，因此可以实现此优势。但是，该功能取决于范围，因此请参阅您的范围手册。

由于采样率低，导致量化噪声

前一节中描述的一些量化噪声是由沿着水平轴的采样点不足引起的。ACT MMD建议至少有3个采样点落在上升沿或下降沿的20％到80％之间。该建议转化为该范围的最低采样率要求。例如，如果信号的上升时间（20％ - 80％）为1 ns，并且在此时间范围内需要4个采样点，则示波器的采样速率必须高于4 Gsps。如果您的示波器具有比上述最低要求更高的采样率，请选择最高采样设置。ACT晶振,贴片晶振,HC49US‐SMX晶振,薄型49SMD晶体